耐受電壓試驗

對試品施加電壓時應(yīng)從足夠低的數(shù)值開始,以防止變過程引起的過電壓的影響;然后應(yīng)緩慢地升高電壓,以便能在儀表上準(zhǔn)確讀數(shù),但也不應(yīng)太慢,以免試品在接近試驗電壓U時耐壓的時間過長。如果當(dāng)電壓高于75%U時以2%U/s的速率上升,通常能滿足上述要求。將試驗電壓值保持規(guī)定的時間后,通過適當(dāng)?shù)碾娮枋雇冯娙?包括試品電容)放電來降低電壓。

耐受電壓的持續(xù)時間應(yīng)由有關(guān)技術(shù)委員會根據(jù)試品的電阻和電容決定的達(dá)到穩(wěn)態(tài)電壓分布的時間來確定。若有關(guān)技術(shù)委員會沒有規(guī)定，則耐受電壓試驗持續(xù)時間為60s。

電壓的極性或每種極性電壓的施加次序,以及任何不同于上述規(guī)定的要求應(yīng)由有關(guān)技術(shù)委員會規(guī)定。

如果試品上沒有破壞性放電發(fā)生，則滿足耐受試驗要求。

破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續(xù)升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應(yīng)記錄破壞性放電發(fā)生瞬間的最后電壓值。該試驗應(yīng)重復(fù)"次,以得到一組”個電壓測量值。有關(guān)技術(shù)委員會規(guī)定升壓速度、施加電壓次數(shù)和評估試驗結(jié)果的方法。

確保破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續(xù)升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應(yīng)記錄破壞性放電發(fā)生瞬間前的最后電樂值。該試驗需重復(fù)”次,以得到一組"個電壓測量值。如果在該組電壓中沒有一個電壓高于確保破壞性放電電壓,則認(rèn)為滿足試驗要求，有關(guān)技術(shù)委員會應(yīng)規(guī)定施加電壓的次數(shù)和升生速度。

試驗電流的測量

在測量流過試品的電流時，可以區(qū)分出幾個獨立的分量。對同一個試品和同一試驗電壓,各分量的大小可能差幾個數(shù)量級。這些分量是：

a)電容電流：由于開始加上試驗電壓或由于試驗電壓上紋波或其他波動所引起。

b)介質(zhì)吸收電流：由于絕緣中發(fā)生緩慢的電荷位移而引起。電流可持續(xù)幾秒至幾小時。該過程局部可逆。當(dāng)試品放電或短路時,可觀察到反極性電流。

c)持續(xù)泄漏電流：當(dāng)a)和b)分量衰減到零后,在恒定電壓下達(dá)到穩(wěn)態(tài)的直流電流。

d)局部放電電流。

測量a)、b)、c)3個分量時需用量程較寬的儀器。應(yīng)注意保證儀器對某一個電流分量的測量不受其他分量的影響。對于非破壞性試驗,有時可以從觀測電流隨時間的變化規(guī)律中了解絕緣狀態(tài)。每個電流分量的相對幅值和重要性取決于試品的類型和狀態(tài)、試驗的目的以及試驗的持續(xù)時間當(dāng)特別需要區(qū)分某一特定分量時,相的測量程序由有關(guān)技術(shù)委員會規(guī)定。

應(yīng)使用校準(zhǔn)過的測量系統(tǒng)進(jìn)行電流測量。

應(yīng)使用GB/T7354局部放電測量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的專用局部放電測試儀器進(jìn)行局部放電脈沖電流的測量。

注：由于直流電壓試驗中可能出現(xiàn)破壞性放電，其電流遠(yuǎn)大于常規(guī)電流，因此通常應(yīng)在直流電流測量回路中使用電壓保護(hù)裝置。